介質(zhì)損耗測試儀通常采用的抗干擾方法主要有

移相法

方法是將加到試品上的測試電壓Ur移相，使Uc與Ig同相位(Ur與Uc恒定相差90度)，從圖B中可見，測量到的電流gx與有效的Ix相差不大(當(dāng)干擾電流較小時(shí))，如果能再反g方向?qū)c移相一次，兩次數(shù)據(jù)合成即能準(zhǔn)確地找到階損角8(即使干擾電流較大)。

變頻法

現(xiàn)場測量時(shí)通常使用工頻電源，而現(xiàn)場干擾主要也是工頻，同頻率的電源相互疊加形成干擾,去除無用的干擾而保留有用測試電流是非常困難的。用非工頻電源進(jìn)行測量，則工頻電源的干擾電流與測試電流由于頻率不同，是很容易區(qū)分開的。比如，將所含有干擾混合信號的前10ms，與后 10ms信號相加，就去除了工頻干擾，而測量信號不是 50Hz所以得以保留。

波形分析法

計(jì)算機(jī)的運(yùn)用，使大量的工程分析計(jì)算變得方便，通過對現(xiàn)場干擾的大量采集分析，結(jié)合測量到的波形，運(yùn)用高等數(shù)學(xué)理論，巧妙地去除干擾，也同樣達(dá)到目的。甚至去除一、三、五次諧波也很方便。

比較

干擾信號是由干擾源通過媒介放加到試品上，即使干擾源是恒定的，但傳輸媒介是空氣及其它絕緣體不是恒定介質(zhì)，所以干擾電源Ig方向隨機(jī)變化的程度>0.0570不足為奇。要使測試電源隨時(shí)跟蹤Ig，而跟蹤角度誤差≤0.057°絕非易事。所以最終抗干擾雖然有效，但是測量精度不容易提高。

運(yùn)行的設(shè)備(試品)在工頻下運(yùn)行，要求知道在工頻條件下的介質(zhì)損耗。

理論上:介質(zhì)損耗=2πfRC，(f=50Hz)

所以用非工頻的f'電源加在試品上所測得的介質(zhì)損耗=2πf'RC，再由這一結(jié)果推算出2πf'RC易如反掌。

然而運(yùn)行設(shè)備的等效R,不是理想的電阻，其中更多的是有極分子，其等效R隨頻率f的變化而變化，所以盡管理論上介質(zhì)損耗與頻率成正比，而實(shí)際介質(zhì)損耗(2πfRC)不與頻率成正比。這給根據(jù)變頻2πfRC推算工頻2πfRC造成了麻煩。

為了減小這個(gè)非線性誤差，f’采用接近工頻的頻率，但過分接近等于沒有變頻，這就是主要矛盾。好在大多數(shù)試品對頻率的敏感沒有那么強(qiáng)烈。所以變頻法抗開擾是比較成功的。

產(chǎn)生一個(gè)有一定的功率，且又是正弦波的異頻電源有較大的難度因?yàn)楫愵l電源波形的失真度對相角的影響很大,或者與實(shí)際工頻正弦波電源情況下所造成的介質(zhì)損耗有誤差。

為了去除接近f’工頻干擾，變頻法不得不處理大量的數(shù)據(jù)，所以相對測量時(shí)間較長。

處理干擾的方法

測試電源采用工頻，使測量與實(shí)際一樣。交錯(cuò)分時(shí)測量干擾信號和綜合信號,將所有測到的信號都精確也鎖定在與測試電源同步的0相位上，再將干擾信號倒相與綜合信號疊加得到有效信號。
在數(shù)字處理上，廣泛地采用數(shù)字與電子技術(shù)，剔除了相角相差1%的信號，剔除了數(shù)值較大的幾組信號，也剔除了數(shù)值較小的幾組信號再將許多組中值信號求平均值得出結(jié)果,而每組信號都是由許多測量信號與處理后的干擾信號構(gòu)成的。在調(diào)試中所有數(shù)據(jù)都以6位有效數(shù)字計(jì)算。為了提高測量速度，采用雙計(jì)算機(jī)和高速并行A/D轉(zhuǎn)換器處理信息，軟件全部用匯編完成。

對于強(qiáng)干擾信號較精確地測出其大小不難,儀器特別設(shè)計(jì)的高精度相位鎖定器能將其準(zhǔn)確地定相，為完全消除干擾提供了便利；對于弱干擾信號粗略地測出其大小也是可以的，而相位鎖定器并不受測量信號的大小影響，仍然準(zhǔn)確定相，弱干擾本來對測量信號的影響就小，再粗略地去除其大部分，也可以認(rèn)為去除了干擾。

對于突發(fā)性干擾信號，儀器盡可能地將采樣的干擾數(shù)據(jù)廢除，或宣布測試失敗，以保證數(shù)據(jù)結(jié)果的可靠性。